© Tina Weigel et al. 2020.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 3 vom: 01. Juni, Seite 614-622
|
|---|
| 1. Verfasser: |
Weigel, Tina
(VerfasserIn) |
|---|
| Weitere Verfasser: |
Funke, Claudia,
Zschornak, Matthias,
Behm, Thomas,
Stöcker, Hartmut,
Leisegang, Tilmann,
Meyer, Dirk C |
|---|
| Format: | Online-Aufsatz
|
|---|
| Sprache: | English |
|---|
| Veröffentlicht: |
2020
|
|---|
| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of applied crystallography
|
|---|
| Schlagworte: | Journal Article
X-ray diffraction
focused ion beams
sample preparation |
|---|