Contrast Reversal in Scanning Tunneling Microscopy and Its Implications for the Topological Classification of SmB6

© 2020 The Authors. Published by WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 32(2020), 10 vom: 27. März, Seite e1906725
1. Verfasser: Herrmann, Hannes (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Hlawenka, Peter, Siemensmeyer, Konrad, Weschke, Eugen, Sánchez-Barriga, Jaime, Varykhalov, Andrei, Shitsevalova, Natalya Y, Dukhnenko, Anatoliy V, Filipov, Volodymyr B, Gabáni, Slavomir, Flachbart, Karol, Rader, Oliver, Sterrer, Martin, Rienks, Emile D L
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2020
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article heavy fermions photoemission scanning tunneling microscopy topological insulators