© 2019 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 32(2020), 3 vom: 06. Jan., Seite e1806452
|
|---|
| 1. Verfasser: |
Kong, Yongfa
(VerfasserIn) |
|---|
| Weitere Verfasser: |
Bo, Fang,
Wang, Weiwei,
Zheng, Dahuai,
Liu, Hongde,
Zhang, Guoquan,
Rupp, Romano,
Xu, Jingjun |
|---|
| Format: | Online-Aufsatz
|
|---|
| Sprache: | English |
|---|
| Veröffentlicht: |
2020
|
|---|
| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
|
|---|
| Schlagworte: | Journal Article
Review
defect simulation calculation
integrated photonics
lithium niobate
on-chip devices
optical damage resistance |
|---|