© 2018 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 30(2018), 18 vom: 03. Mai, Seite e1800017
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| 1. Verfasser: |
Un, Hio-Ieng
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Cheng, Peng,
Lei, Ting,
Yang, Chi-Yuan,
Wang, Jie-Yu,
Pei, Jian |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2018
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
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| Schlagworte: | Journal Article
charge trapping
non-ideal behavior
organic field-effect transistors
scanning Kelvin probe microscopy |
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