Direct Probing of Polarization Charge at Nanoscale Level

© 2017 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 30(2018), 1 vom: 15. Jan.
1. Verfasser: Kwon, Owoong (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Seol, Daehee, Lee, Dongkyu, Han, Hee, Lindfors-Vrejoiu, Ionela, Lee, Woo, Jesse, Stephen, Lee, Ho Nyung, Kalinin, Sergei V, Alexe, Marin, Kim, Yunseok
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2018
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article conductive atomic force microscopy nanoscale piezoresponse force microscopy polarization charge positive-up-negative-down