Role of Charge Traps in the Performance of Atomically Thin Transistors
© 2017 The Authors. Published by WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 29(2017), 19 vom: 20. Mai |
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1. Verfasser: | |
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Format: | Online-Aufsatz |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2017
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) |
Schlagworte: | Journal Article 2D materials MoTe2 current transients field-effect transistors surface states |
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