Real-Space Visualization of Energy Loss and Carrier Diffusion in a Semiconductor Nanowire Array Using 4D Electron Microscopy

© 2016 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 28(2016), 25 vom: 15. Juli, Seite 5106-11
1. Verfasser: Bose, Riya (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sun, Jingya, Khan, Jafar I, Shaheen, Basamat S, Adhikari, Aniruddha, Ng, Tien Khee, Burlakov, Victor M, Parida, Manas R, Priante, Davide, Goriely, Alain, Ooi, Boon S, Bakr, Osman M, Mohammed, Omar F
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2016
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article InGaN carrier diffusion carrier dynamics nanowires real-space imaging surface dynamics ultrafast electron microscopy
LEADER 01000naa a22002652 4500
001 NLM259714232
003 DE-627
005 20231224191809.0
007 cr uuu---uuuuu
008 231224s2016 xx |||||o 00| ||eng c
024 7 |a 10.1002/adma.201600202  |2 doi 
028 5 2 |a pubmed24n0865.xml 
035 |a (DE-627)NLM259714232 
035 |a (NLM)27111855 
040 |a DE-627  |b ger  |c DE-627  |e rakwb 
041 |a eng 
100 1 |a Bose, Riya  |e verfasserin  |4 aut 
245 1 0 |a Real-Space Visualization of Energy Loss and Carrier Diffusion in a Semiconductor Nanowire Array Using 4D Electron Microscopy 
264 1 |c 2016 
336 |a Text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a ƒaComputermedien  |b c  |2 rdamedia 
338 |a ƒa Online-Ressource  |b cr  |2 rdacarrier 
500 |a Date Completed 17.07.2018 
500 |a Date Revised 01.10.2020 
500 |a published: Print-Electronic 
500 |a Citation Status PubMed-not-MEDLINE 
520 |a © 2016 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim. 
520 |a A breakthrough in the development of 4D scanning ultrafast electron microscopy is described for real-time and space imaging of secondary electron energy loss and carrier diffusion on the surface of an array of nanowires as a model system, providing access to a territory that is beyond the reach of either static electron imaging or any time-resolved laser spectroscopy 
650 4 |a Journal Article 
650 4 |a InGaN 
650 4 |a carrier diffusion 
650 4 |a carrier dynamics 
650 4 |a nanowires 
650 4 |a real-space imaging 
650 4 |a surface dynamics 
650 4 |a ultrafast electron microscopy 
700 1 |a Sun, Jingya  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Khan, Jafar I  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Shaheen, Basamat S  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Adhikari, Aniruddha  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Ng, Tien Khee  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Burlakov, Victor M  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Parida, Manas R  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Priante, Davide  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Goriely, Alain  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Ooi, Boon S  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Bakr, Osman M  |e verfasserin  |4 aut 
700 1 |a Mohammed, Omar F  |e verfasserin  |4 aut 
773 0 8 |i Enthalten in  |t Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)  |d 1998  |g 28(2016), 25 vom: 15. Juli, Seite 5106-11  |w (DE-627)NLM098206397  |x 1521-4095  |7 nnns 
773 1 8 |g volume:28  |g year:2016  |g number:25  |g day:15  |g month:07  |g pages:5106-11 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1002/adma.201600202  |3 Volltext 
912 |a GBV_USEFLAG_A 
912 |a SYSFLAG_A 
912 |a GBV_NLM 
912 |a GBV_ILN_350 
951 |a AR 
952 |d 28  |j 2016  |e 25  |b 15  |c 07  |h 5106-11