Real-Space Visualization of Energy Loss and Carrier Diffusion in a Semiconductor Nanowire Array Using 4D Electron Microscopy

© 2016 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 28(2016), 25 vom: 15. Juli, Seite 5106-11
1. Verfasser: Bose, Riya (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sun, Jingya, Khan, Jafar I, Shaheen, Basamat S, Adhikari, Aniruddha, Ng, Tien Khee, Burlakov, Victor M, Parida, Manas R, Priante, Davide, Goriely, Alain, Ooi, Boon S, Bakr, Osman M, Mohammed, Omar F
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2016
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article InGaN carrier diffusion carrier dynamics nanowires real-space imaging surface dynamics ultrafast electron microscopy