Laue-DIC : a new method for improved stress field measurements at the micrometer scale
A better understanding of the effective mechanical behavior of polycrystalline materials requires an accurate knowledge of the behavior at a scale smaller than the grain size. The X-ray Laue microdiffraction technique available at beamline BM32 at the European Synchrotron Radiation Facility is ideal...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 22(2015), 4 vom: 24. Juli, Seite 980-94
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| 1. Verfasser: |
Petit, J
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Castelnau, O,
Bornert, M,
Zhang, F G,
Hofmann, F,
Korsunsky, A M,
Faurie, D,
Le Bourlot, C,
Micha, J S,
Robach, O,
Ulrich, O |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2015
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation
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| Schlagworte: | Journal Article
Research Support, Non-U.S. Gov't
X-ray diffraction
elastic strain
microbeam
stress field |
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