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KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples application to in situ mechanically loaded nanowires
von
Leclere, C
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
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Laue-DIC a new method for improved stress field measurements at the micrometer scale
von
Petit, J
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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