Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Merkliste
(Voll)
Hilfe
de
fr
Alle Felder
Titel
Verfasser
Schlagwort
Signatur
ISBN/ISSN
Tag
Suchen
Erweitert
Ähnliche Schlagwörter:
atomic force microscope
Bestand:
DHI Paris
Filter anzeigen (2)
Ähnliche Schlagwörter:
atomic force microscope
Bestand:
DHI Paris
Suchergebnisse
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Journal Article
2
atomic force microscope
AFM
1
Laue microdiffraction
1
Pasteuria penetrans
1
Research Support, Non-U.S. Gov't
1
cuticle
1
mehr ...
endospore
1
in situ mechanical test
1
morphology
1
nanowire
1
nematode
1
scanning probe microscopy
1
ultrastructure
1
weniger ...
Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
'
, Suchdauer: 0,72s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Nach Datum, aufsteigend
Verfasser
Titel
1
KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples application to in situ mechanically loaded nanowires
von
Leclere, C
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
Online-Aufsatz
Wird geladen...
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
2
Atomic force microscopy of plant-parasitic nematodes
von
Ciancio, A
Veröffentlicht in:
Journal of nematology
(1995)
Aufsatz
Wird geladen...
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
—
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche einschränken
Bestand
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Format
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Verfasser
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Erscheinungsjahr
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Sprache
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Dokumenttyp
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Basisklassifikation
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen...