Single grain boundary break junction for suspended nanogap electrodes with gapwidth down to 1-2 nm by focused ion beam milling

Single grain boundary break junction for suspended nanogap electrodes with gapwidth down to 1-2 nm by focused ion beam milling

© 2015 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 27(2015), 19 vom: 20. Mai, Seite 3002-6
1. Verfasser: Cui, Ajuan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Liu, Zhe, Dong, Huanli, Wang, Yujin, Zhen, Yonggang, Li, Wuxia, Li, Junjie, Gu, Changzhi, Hu, Wenping
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2015
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article focused ion beam milling molecular electronics nanogap electrodes
Online verfügbar Volltext