Local diffusion induced roughening in cobalt phthalocyanine thin film growth

We have studied the kinetic roughening in the growth of cobalt phthalocyanine (CoPc) thin films grown on SiO2/Si(001) surfaces as a function of the deposition time and the growth temperature using atomic force microscopy (AFM). We have observed that the growth exhibits the formation of irregular isl...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1985. - 30(2014), 29 vom: 29. Juli, Seite 8735-40
1. Verfasser:	Gedda, Murali (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Subbarao, Nimmakayala V V, Goswami, Dipak K
Format:	Online-Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2014
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:	Journal Article