On the application of a single-crystal κ-diffractometer and a CCD area detector for studies of thin films

A multipurpose six-axis κ-diffractometer, together with the brilliance of the ESRF light source and a CCD area detector, has been explored for studying epitaxial relations and crystallinity in thin film systems. The geometrical flexibility of the six-axis goniometer allows measurement of a large vol...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 20(2013), Pt 4 vom: 07. Juli, Seite 644-7
1. Verfasser:	Sønsteby, Henrik Hovde (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Chernyshov, Dmitry, Getz, Michael, Nilsen, Ola, Fjellvåg, Helmer
Format:	Online-Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2013
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article epitaxial thin films six-axis κ-diffractometer synchrotron X-ray diffraction