Transit phenomena in organic field-effect transistors through Kelvin-probe force microscopy

Transit phenomena in organic field-effect transistors through Kelvin-probe force microscopy

Copyright © 2013 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 25(2013), 31 vom: 21. Aug., Seite 4315-9
1. Verfasser: Melzer, Christian (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Siol, Christopher, von Seggern, Heinz
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2013
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't field-effect mobility kelvin-probe force microscopy organic field-effect transistor transient current
Online verfügbar Volltext