Transit phenomena in organic field-effect transistors through Kelvin-probe force microscopy

Transit phenomena in organic field-effect transistors through Kelvin-probe force microscopy

Copyright © 2013 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 25(2013), 31 vom: 21. Aug., Seite 4315-9
Auteur principal: Melzer, Christian (Auteur)
Autres auteurs: Siol, Christopher, von Seggern, Heinz
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2013
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't field-effect mobility kelvin-probe force microscopy organic field-effect transistor transient current
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