Ultrafast imaging and the phase problem for inelastic X-ray scattering
A new method for imaging ultrafast dynamics in condensed matter using inelastic X-ray scattering (IXS) is described. Using the concepts of causality and irreversibility a general solution to the inverse scattering problem (or "phase problem") for IXS is illustrated, which enables direct im...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 22(2010), 10 vom: 12. März, Seite 1141-7
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| 1. Verfasser: |
Abbamonte, Peter
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Wong, Gerard C L,
Cahill, David G,
Reed, James P,
Coridan, Robert H,
Schmidt, Nathan W,
Lai, Ghee Hwee,
Joe, Young Il,
Casa, Diego |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2010
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
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| Schlagworte: | News
Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S. |
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