Fast keypoint recognition using random ferns

While feature point recognition is a key component of modern approaches to object detection, existing approaches require computationally expensive patch preprocessing to handle perspective distortion. In this paper, we show that formulating the problem in a naive Bayesian classification framework ma...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence. - 1979. - 32(2010), 3 vom: 15. März, Seite 448-61
1. Verfasser:	Ozuysal, Mustafa (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Calonder, Michael, Lepetit, Vincent, Fua, Pascal
Format:	Online-Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2010
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence
Schlagworte:	Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't