Determination of critical micelle concentration of aerosol-OT using time-of-flight secondary ion mass spectrometry fragmentation ion patterns

Aggregation patterns and fragmentation ion data from thin film preparations of the anionic surfactant sodium bis(2-ethylhexyl) sulfosuccinate (aka Aerosol-OT (AOT)) near the critical micelle concentration (CMC) in carbon tetrachloride were determined using time-of-flight secondary ion mass spectrome...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 25(2009), 19 vom: 06. Okt., Seite 11244-9
1. Verfasser:	Burns, Sarah A (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Valint, Paul L Jr, Gardella, Joseph A Jr
Format:	Online-Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2009
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:	Journal Article