Quantitative nanotribology by AFM : a novel universal calibration platform
The quantitative determination of friction forces by atomic force microscopy (AFM) in nanotribology requires the conversion of the output voltage signal of the sector area-sensitive photodiode to force using (a) the torsional spring constant of the cantilever and (b) the lateral sensitivity of the p...
| Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 22(2006), 5 vom: 28. Feb., Seite 2340-50 |
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| 1. Verfasser: | |
| Weitere Verfasser: | , |
| Format: | Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2006
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids |
| Schlagworte: | Journal Article |