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Improving the soft X-ray reflectivity of Cr/Ti multilayers by co-deposition of B4C
par
Zhu
,
Jingtao
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2020)
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2
Electronic-Grade High-Quality Perovskite Single Crystals by a Steady Self-Supply Solution Growth for High-Performance X-ray Detectors
par
Wang, Wenzhen
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2020)
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...
Zhu
,
Jingtao
...
”
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3
Quantitative investigation of linear arbitrary polarization in an APPLE-II undulator
par
Hand, Matthew
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2018)
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“
...
Zhu
,
Jingtao
...
”
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4
Thickness-dependent structural characteristics for a sputtering-deposited chromium monolayer and Cr/C and Cr/Sc multilayers
par
Jiang, Hui
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2018)
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“
...
Zhu
,
Jingtao
...
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5
X-ray fluorescence induced by standing waves in the grazing-incidence and grazing-exit modes study of the Mg-Co-Zr system
par
Tu, Yuchun
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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...
Zhu
,
Jingtao
...
”
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6
Integration method for directly analyzing interface statistics of periodic multilayers from X-ray scattering
par
Li, Haochuan
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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...
Zhu
,
Jingtao
...
”
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7
Interface characterization of B4C-based multilayers by X-ray grazing-incidence reflectivity and diffuse scattering
par
Jiang, Hui
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2013)
Autres auteurs:
“
...
Zhu
,
Jingtao
...
”
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8
Complete polarization analysis of an APPLE II undulator using a soft X-ray polarimeter
par
Wang, Hongchang
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2012)
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Zhu
,
Jingtao
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