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Twin domain imaging in topological insulator Bi2Te3 and Bi2Se3 epitaxial thin films by scanning X-ray nanobeam microscopy and electron backscatter diffraction
par
Kriegner, Dominik
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2017)
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2
Crystallization dynamics and interface stability of strontium titanate thin films on silicon
par
Hanzig, Florian
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2015)
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