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  1. 1
    Twin domain imaging in topological insulator Bi2Te3 and Bi2Se3 epitaxial thin films by scanning X-ray nanobeam microscopy and electron backscatter diffraction
    von Kriegner, Dominik
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2017)
    Weitere Verfasser: “...Veselý, Jozef...”

    Online-Aufsatz

  2. 2
    Crystallization dynamics and interface stability of strontium titanate thin films on silicon
    von Hanzig, Florian
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2015)
    Weitere Verfasser: “...Veselý, Jozef...”
    Aufsatz

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