Résultat(s) 1 - 14 résultats de 14 pour la requête 'Siewert, Frank', Temps de recherche: 1,49s Affiner les résultats
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    The Heisenberg-RIXS instrument at the European XFEL
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  2. 2
    The meV XUV-RIXS facility at UE112-PGM1 of BESSY II
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    Performance and characterization of the FinEstBeAMS beamline at the MAX IV Laboratory
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    BioMAX - the first macromolecular crystallography beamline at MAX IV Laboratory
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    Damage thresholds for blaze diffraction gratings and grazing incidence optics at an X-ray free-electron laser
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    Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH
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    CAMPFLASH an end-station for imaging, electron- and ion-spectroscopy, and pump-probe experiments at the FLASH free-electron laser
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  8. 8
    Coatings for FEL optics preparation and characterization of B4C and Pt
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  9. 9
    Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold
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  10. 10
    DABAM an open-source database of X-ray mirrors metrology
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  11. 11
    Preparation and characterization of B4C coatings for advanced research light sources
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  12. 12
    Characterization of a piezo bendable X-ray mirror
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  13. 13
    Microfocusing at the PG1 beamline at FLASH
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  14. 14
    Mo/Si multilayer-coated amplitude-division beam splitters for XUV radiation sources
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