Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Schäfers, Franz', Temps de recherche: 2,54s Affiner les résultats
  1. 1
    Optical constants of sputtered beryllium thin films determined from photoabsorption measurements in the spectral range 20.4-250 eV
    Autres auteurs: “...Schäfers, Franz...”

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  2. 2
    Soft X-ray varied-line-spacing gratings fabricated by near-field holography using an electron beam lithography-written phase mask
    par Lin, Dakui
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2019)
    Autres auteurs: “...Schäfers, Franz...”

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