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    Optical constants of sputtered beryllium thin films determined from photoabsorption measurements in the spectral range 20.4-250 eV
    Optical constants of sputtered beryllium thin films determined from photoabsorption measurements in the spectral range 20.4-250 eV
    von Svechnikov, Mikhail
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2020)
    Weitere Verfasser: “...Schäfers, Franz...”

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    Soft X-ray varied-line-spacing gratings fabricated by near-field holography using an electron beam lithography-written phase mask
    Soft X-ray varied-line-spacing gratings fabricated by near-field holography using an electron beam lithography-written phase mask
    von Lin, Dakui
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)
    Weitere Verfasser: “...Schäfers, Franz...”

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Journal Article beryllium electron beam lithography fabrication free-standing thin film near-edge X-ray absorption fine-structure spectroscopy near-field holography optical constants photoabsorption refractive index soft X-ray varied-line-spacing grating spectrometer
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