Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Ofuchi, H', Temps de recherche: 1,15s Affiner les résultats
  1. 1
    Lowest limit for detection of impurity concentration in semiconductors by fluorescence XAFS resonant Raman scattering and angle dependence
    par Takeda, Y
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2005)
    Autres auteurs: “...Ofuchi, H...”
    Article

  2. 2
    Local structure study of dilute Er in III-V semiconductors by fluorescence EXAFS
    par Ofuchi, H
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (1998)
    Article

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