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    Lowest limit for detection of impurity concentration in semiconductors by fluorescence XAFS resonant Raman scattering and angle dependence
    Lowest limit for detection of impurity concentration in semiconductors by fluorescence XAFS resonant Raman scattering and angle dependence
    von Takeda, Y
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2005)
    Weitere Verfasser: “...Ofuchi, H...”
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    Local structure study of dilute Er in III-V semiconductors by fluorescence EXAFS
    Local structure study of dilute Er in III-V semiconductors by fluorescence EXAFS
    von Ofuchi, H
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1998)
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