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    Lowest limit for detection of impurity concentration in semiconductors by fluorescence XAFS resonant Raman scattering and angle dependence
    von Takeda, Y
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2005)
    Weitere Verfasser: “...Ofuchi, H...”
    Aufsatz

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    Local structure study of dilute Er in III-V semiconductors by fluorescence EXAFS
    von Ofuchi, H
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1998)
    Aufsatz

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