Résultat(s) 1 - 4 résultats de 4 pour la requête 'Moulin, Jean-Francois' Aller au contenu
VuFind
  • Panier (Plein)
  • Aide
  • de
  • fr
Recherche avancée
  • Auteur
  • Moulin, Jean-Francois
Résultat(s) 1 - 4 résultats de 4 pour la requête 'Moulin, Jean-Francois', Temps de recherche: 1,12s Affiner les résultats
  1. 1
    Advice on describing Bayesian analysis of neutron and X-ray reflectometry
    Advice on describing Bayesian analysis of neutron and X-ray reflectometry
    par McCluskey, Andrew R
    Publié dans: Journal of applied crystallography (2023)
    Autres auteurs: “...Moulin, Jean-Francois...”

    Article en ligne
    Ajouter au panier Retirer du panier
  2. 2
    Probing the Interface Structure of Adhering Cells by Contrast Variation Neutron Reflectometry
    Probing the Interface Structure of Adhering Cells by Contrast Variation Neutron Reflectometry
    par Böhm, Philip
    Publié dans: Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids (2019)
    Autres auteurs: “...Moulin, Jean-François...”

    Article en ligne
    Ajouter au panier Retirer du panier
  3. 3
    Hydration and Solvent Exchange Induced Swelling and Deswelling of Homogeneous Poly(N-isopropylacrylamide) Microgel Thin Films
    Hydration and Solvent Exchange Induced Swelling and Deswelling of Homogeneous Poly(N-isopropylacrylamide) Microgel Thin Films
    par Widmann, Tobias
    Publié dans: Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids (2019)
    Autres auteurs: “...Moulin, Jean-François...”

    Article en ligne
    Ajouter au panier Retirer du panier
  4. 4
    Density profile in thin films of polybutadiene on silicon oxide substrates a TOF-NR study
    Density profile in thin films of polybutadiene on silicon oxide substrates a TOF-NR study
    par Hoppe, E Tilo
    Publié dans: Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids (2013)
    Autres auteurs: “...Moulin, Jean-François...”

    Article en ligne
    Ajouter au panier Retirer du panier
Outils de recherche: S'abonner aux flux RSS — Envoyer cette recherche par courriel

Sujets similaires

Journal Article 059QF0KO0R 7631-86-9 Bayesian analysis FAIR data standards Research Support, Non-U.S. Gov't Review Silicon Dioxide Water reflectivity reflectometry
Deutsches Historisches Institut Paris
Hôtel Duret-de-Chevry
8 rue du Parc-Royal
75003 Paris
Tel.
+33 1 44542380
Fax
+33 1 42715643
E-Mail
info@dhi-paris.fr

Das DHIP ist Teil der

Follow us!

  • twitter
  • facebook
  • youtube
  • rss
  • email
  • Bibliothèque
  • OPAC
  • Mentions légales
  • Protection des données
© 2021 DHIP IHA
Chargement en cours...