Density profile in thin films of polybutadiene on silicon oxide substrates : a TOF-NR study

We have investigated thin films from fully deuterated polybutadiene (PB-d6) on silicon substrates with the aim of detecting and characterizing a possible interphase in the polymer film near the substrate using time-of-flight neutron reflectometry (TOF-NR). As substrates, thermally oxidized silicon w...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 29(2013), 34 vom: 27. Aug., Seite 10759-68
1. Verfasser: Hoppe, E Tilo (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sepe, Alessandro, Haese-Seiller, Martin, Moulin, Jean-François, Papadakis, Christine M
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2013
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:Journal Article