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1
X-ray diffraction strain analysis of a single axial InAs 1-x Px nanowire segment
von
Keplinger
,
Mario
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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2
Coherence and wavefront characterization of Si-111 monochromators using double-grating interferometry
von
Diaz, Ana
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2010)
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