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$X-ray diffraction from dislocation half-loops in epitaxial films$

X-ray diffraction from dislocation half-loops in epitaxial films

von Kaganer, Vladimir M
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2024)

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X-ray scattering study of GaN nanowires grown on Ti/Al2O3 by molecular beam epitaxy

von Kaganer, Vladimir M
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2023)

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