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Hu, Jian-Guo
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Theoretical investigations on the defect structures and g factors for V4+ in 30PbO-5Bi2 O3 -(65-x)SiO2 glasses at different concentrations
par
Hu
,
Jian
-
Guo
Publié dans:
Magnetic resonance in chemistry : MRC
(2022)
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2
The Exploration and Confirmation of the Maximum Mass Sensitivity of Quartz Crystal Microbalance
par
Huang, Xian-He
Publié dans:
IEEE transactions on ultrasonics, ferroelectrics, and frequency control
(2018)
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Hu
,
Jian
-
Guo
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Sujets similaires
Journal Article
30PbO-5Bi2O3-(65-x) SiO2 (PBS) glasses
7631-86-9
Research Support, Non-U.S. Gov't
Silicon Dioxide
V4 +
defect structures
electron paramagnetic resonance (EPR)
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