Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Harcuba, Petr', Temps de recherche: 3,21s Affiner les résultats
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    Determination of α lamellae orientation in a β-Ti alloy using electron backscatter diffraction

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    Twin domain imaging in topological insulator Bi2Te3 and Bi2Se3 epitaxial thin films by scanning X-ray nanobeam microscopy and electron backscatter diffraction
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