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Determination of α lamellae orientation in a β-Ti alloy using electron backscatter diffraction
von
Harcuba
,
Petr
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2024)
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Twin domain imaging in topological insulator Bi2Te3 and Bi2Se3 epitaxial thin films by scanning X-ray nanobeam microscopy and electron backscatter diffraction
von
Kriegner, Dominik
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2017)
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