Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Harcuba, Petr', Temps de recherche: 0,77s Affiner les résultats
  1. 1
    Determination of α lamellae orientation in a β-Ti alloy using electron backscatter diffraction

    Article en ligne

  2. 2
    Twin domain imaging in topological insulator Bi2Te3 and Bi2Se3 epitaxial thin films by scanning X-ray nanobeam microscopy and electron backscatter diffraction
    Autres auteurs: “...Harcuba, Petr...”

    Article en ligne

Outils de recherche: S'abonner aux flux RSS — Envoyer cette recherche par courriel