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    Atomic Force Microscopy Force Mapping Analysis of an Adsorbed Surfactant above and below the Critical Micelle Concentration
    Atomic Force Microscopy Force Mapping Analysis of an Adsorbed Surfactant above and below the Critical Micelle Concentration
    von Hamon, J J
    Veröffentlicht in: Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids (2018)

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