Résultat(s)
1 - 3
résultats de
3
pour la requête '
Falkenberg, G
'
Aller au contenu
VuFind
Panier
(Plein)
Aide
de
fr
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
Cote
ISBN/ISSN
Tag
Rechercher
Recherche avancée
Auteur
Falkenberg, G
Résultat(s)
1 - 3
résultats de
3
pour la requête '
Falkenberg, G
'
, Temps de recherche: 2,68s
Affiner les résultats
Trier
Pertinence
Date (décroissante)
Date (croissante)
Auteur
Titre
1
Sub-micrometer focusing setup for high-pressure crystallography at the Extreme Conditions beamline at PETRA III
par
Glazyrin, K
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2022)
Autres auteurs:
“
...
Falkenberg
,
G
...
”
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
2
X-ray fluorescence analysis of metal distributions in cryogenic biological samples using large-acceptance-angle SDD detection and continuous scanning at the Hard X-ray Micro/Nano-P...
par
Rumancev, C
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2020)
Autres auteurs:
“
...
Falkenberg
,
G
...
”
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
3
On the characterization of ultra-precise X-ray optical components advances and challenges in ex situ metrology
par
Siewert, F
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
Autres auteurs:
“
...
Falkenberg
,
G
...
”
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
Outils de recherche:
S'abonner aux flux RSS
—
Envoyer cette recherche par courriel
Sujets similaires
Journal Article
27YLU75U4W
70FD1KFU70
Calcium
Chlorides
HeLa cells
NOM
Phosphorus
Potassium
QHB8T06IDK
RWP5GA015D
Research Support, Non-U.S. Gov't
SDD
SY7Q814VUP
Silicon Compounds
Sulfur
X-ray diffraction
X-ray optics
XRF
cryogenic
diamond anvil cells
focusing mirrors
high pressure
metrology for synchrotron optics
multilayer
phase correcting plate
silicon nitride
slope measurement
solid angle
sub-micrometer focusing
Chargement en cours...