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$Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH$

Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH

von Dziarzhytski, Siarhei
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2018)

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On the characterization of ultra-precise X-ray optical components advances and challenges in ex situ metrology

von Siewert, F
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2014)

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