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    New methods for semiconductor charge-diffusion-length measurements using synchrotron radiation
    von Kohagura, J
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1998)
    Weitere Verfasser: “...Cho, T...”
    Aufsatz

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    Characterization and interpretation of the quantum efficiencies of multilayer semiconductor detectors using a new theory
    von Cho, T
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1998)
    Aufsatz

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