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    Characterization and interpretation of the quantum efficiencies of multilayer semiconductor detectors using a new theory
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    von Cho, T
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1998)
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    New methods for semiconductor charge-diffusion-length measurements using synchrotron radiation
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    von Kohagura, J
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (1998)
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