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Research Support, Non-U.S. Gov't
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XFEL mirrors
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in-depth profile
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inverse problem
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soft X-ray optics
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1
Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B₄C and Ni coatings at 0.1-2 keV
par
Kozhevnikov, I V
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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