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reflectometry
machine learning
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Bayesian analysis
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FAIR data standards
1
NOM
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Python
1
plus ...
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1
X-ray analysis
1
X-ray optics
1
XRR
1
XUV Raman spectrometer
1
autonomous experiments
1
beamline control
1
closed-loop control
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data analysis
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metrology for synchrotron optics
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reflectivity
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1
Neural network analysis of neutron and X-ray reflectivity data incorporating prior knowledge
par
Munteanu, Valentin
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2024)
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2
Closing the loop autonomous experiments enabled by machine-learning-based online data analysis in synchrotron beamline environments
par
Pithan, Linus
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2023)
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3
Advice on describing Bayesian analysis of neutron and X-ray reflectometry
par
McCluskey, Andrew R
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2023)
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4
Neural network analysis of neutron and X-ray reflectivity data automated analysis using mlreflect, experimental errors and feature engineering
par
Greco, Alessandro
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2022)
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5
GenX 3 the latest generation of an established tool
par
Glavic, Artur
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2022)
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6
Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH
par
Dziarzhytski, Siarhei
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2018)
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