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scanning Kelvin probe microscopy
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Titel
1
Charge-Trapping-Induced Non-Ideal Behaviors in Organic Field-Effect Transistors
von
Un, Hio-Ieng
Veröffentlicht in:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2018)
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2
Scanning Kelvin Probe Microscopy Investigation of the Role of Minority Carriers on the Switching Characteristics of Organic Field-Effect Transistors
von
Hu, Yuanyuan
Veröffentlicht in:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2016)
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