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1
Incorporation of interfacial roughness into recursion matrix formalism of dynamical X-ray diffraction in multilayers and superlattices
von
Lobach, Ihar
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2017)
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2
Structural characterization and low-temperature properties of Ru/C multilayer monochromators with different periodic thicknesses
von
Jiang, Hui
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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