Structural characterization and low-temperature properties of Ru/C multilayer monochromators with different periodic thicknesses

Ru/C multilayer monochromators with different periodic thicknesses were investigated using X-ray grazing-incidence reflectivity, diffuse scattering, Bragg imaging, morphology testing, etc. before and after cryogenic cooling. Quantitative analyses enabled the determination of the key multilayer struc...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 22(2015), 6 vom: 11. Nov., Seite 1379-85
1. Verfasser:	Jiang, Hui (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	He, Yan, He, Yumei, Li, Aiguo, Wang, Hua, Zheng, Yi, Dong, Zhaohui
Format:	Online-Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2015
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't cryogenic cooling interdiffusion interfacial roughness multilayer stress