Résultat(s)
1 - 2
résultats de
2
pour la requête '
'
Aller au contenu
VuFind
Panier
(Plein)
Aide
de
fr
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
Cote
ISBN/ISSN
Tag
Rechercher
Recherche avancée
Suggestion de sujets:
focused ion beam milling
Bestand:
DHI Paris
Montrer les filtres (2)
Suggestion de sujets:
focused ion beam milling
Bestand:
DHI Paris
Résultats de la recherche
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Journal Article
2
focused ion beam milling
electron diffraction
1
lamella preparation
1
lipidic cubic phases
1
membrane protein crystals grown in meso
1
molecular electronics
1
plus ...
nanogap electrodes
1
moins ...
Résultat(s)
1 - 2
résultats de
2
pour la requête '
'
, Temps de recherche: 3,56s
Affiner les résultats
Trier
Pertinence
Date (décroissante)
Date (croissante)
Auteur
Titre
1
Demonstration of electron diffraction from membrane protein crystals grown in a lipidic mesophase after lamella preparation by focused ion beam milling at cryogenic temperatures
par
Polovinkin, Vitaly
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2020)
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
2
Single grain boundary break junction for suspended nanogap electrodes with gapwidth down to 1-2 nm by focused ion beam milling
par
Cui, Ajuan
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2015)
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
Outils de recherche:
S'abonner aux flux RSS
—
Envoyer cette recherche par courriel
Restreindre la recherche
Bestand
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Format
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Auteur
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Année de publication
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Langue
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Genre
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Classification de base
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Chargement en cours...