On the use of beam precession for serial electron crystallography

© Sergi Plana-Ruiz et al. 2025.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 58(2025), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 1249-1260
1. Verfasser: Plana-Ruiz, Sergi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lu, Penghan, Ummethala, Govind, Dunin-Borkowski, Rafal E
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2025
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article 3D ED SerialED precession electron diffraction scanning transmission electron microscopy serial crystallography