TXM-Pal : a companion software for advanced data processing in spectroscopic X-ray microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - (2025) vom: 01. Mai
1. Verfasser: Jo, Sugeun (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Kim, Sangwoo, Lim, Jun
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2025
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article X-ray absorption near-edge structure (XANES) imaging X-ray image analysis X-ray spectroscopy lithium ion batteries transmission X-ray microscopy (TXM)