TXM-Pal : a companion software for advanced data processing in spectroscopic X-ray microscopy

open access.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - (2025) vom: 01. Mai
Auteur principal: Jo, Sugeun (Auteur)
Autres auteurs: Kim, Sangwoo, Lim, Jun
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2025
Accès à la collection:Journal of synchrotron radiation
Sujets:Journal Article X-ray absorption near-edge structure (XANES) imaging X-ray image analysis X-ray spectroscopy lithium ion batteries transmission X-ray microscopy (TXM)