Ultrathin Rare-Earth Oxyhalides as High-κ van der Waals Layered Dielectrics

Ultrathin Rare-Earth Oxyhalides as High-κ van der Waals Layered Dielectrics

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 37(2025), 10 vom: 01. März, Seite e2417103
Auteur principal: Liu, Zijia (Auteur)
Autres auteurs: Yin, Lei, Peng, Ximeng, Zhou, Yanchang, Zhai, Baoxing, Yu, Yiling, Cheng, Ruiqing, Wen, Yao, Jiang, Jian, Feng, Xiaoqiang, Wang, Fang, He, Jun
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2025
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article 2D electronics 2D high‐κ dielectric rare‐earth oxyhalides space‐confined epitaxy van der Waals dielectrics
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