High Defect Tolerance Breaking the Design Limitation of Full-Spectrum Multimodal Luminescence Materials

© 2024 Wiley‐VCH GmbH.

Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - (2024) vom: 12. Dez., Seite e2411532
Auteur principal: Zhang, Pan (Auteur)
Autres auteurs: Zhao, Xiaohui, Jia, Zhenwei, Dong, Jiabin, Liang, Tianlong, Liu, Yue, Cheng, Qilin, Ding, Liqun, Wu, Li, Peng, Dengfeng, Kong, Yongfa, Zhang, Yi, Xu, Jingjun
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2024
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article defect tolerance full spectrum coverage multimodal luminescence materials optical anti‐counterfeiting